| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,石油,電子 |
美國OAI 317型紫外測量儀
初設計用于系列500和600(SVG/Perkin-Elmer)投影掩模對準器，基于微處理器的317型分析儀監視器允許存儲和回看從曝光系列收集的多個曝光參數(強度、能量和時間)。它計算百分偏差和平均能量。交直流操作。對于310, 365, 380，400和436納米波長和其他波長都是可用的。
317型適用于需要可重復、可靠的紫外測量的任何應用，適用于各種需要準確測量紫外能量的行業。
美國OAI 317型紫外測量儀特點
平均達9次曝光
數字顯示提供清晰、可追溯的NIST測量
測量強度、時間和能量
記錄一系列曝光的百分比偏差
探測波長顯示有助于防止設置錯誤
簡單的按鈕操作提供可靠的結果
RS 232輸出下載和記錄分析器測量結果
可分離傳感器與許多光致抗蝕劑的光譜響應相匹配
可以讀取顯示讀數
前面板提醒提示用戶
堅固耐用的鋁外殼特征手柄和便攜傳感器袋
